###COOKIEFRAME###
###COOKIEBUTTON###
###COOKIEINFO###

Kiểm tra các tấm silicon mỏng

Bản đệm của thiết bị là một đĩa silicon. Điểm quan trọng của thành phần này kết hợp với việc giảm vật liệu không đổi cần thiết cho các thí nghiệm độ bền, trong đó thí nghiệm uốn 4 điểm được thiết lập với một thiết bị giữ tấm mỏng SI đặc biệt. Tuy nhiên áp suất bên trong cao được hình thành trong suốt thí nghiệm. Ngược lại thí nghiệm uốn 4 điễm với bệ đỡ trong cho phép phân tán áp suất gần như ổn định và thường được sử dụng để loại bỏ sự khác biệt về chất lượng giữa các nhà cung cấp. Thông tin phụ về chất lượng sản xuất của tấm mỏng thu được sử dụng thí nghiệm uốn 2 vòng. Tải trong tối đa đo được của tấm mỏng bị ảnh hưởng bởi điều kiện lưỡi cắt, vì vậy cung cấp việc đo chất lượng của nó. Những thí nghiệm này yêu cầu lực tối đa tới 30 N và có thể được thực hiện bằng máy zwicki-Line. Thiết kế của dòng máy này làm cho nó trở nên lý tưởng để kết hợp trong các dây chuyền sản xuất.


Videos

 

Photovoltaics: 4-point flexure test - 4-Punkt-Biegeversuch

4-point flexure test on solar modules - 4-Punkt-Biegeversuch an Solarmodulen
Video 00:01:22
171_4-point_flexure_test_01.wmv (52 M)

Liên hệ hỏi thông tin
Lời chào*
Quốc Gia*
* Những ô yêu cầu